光學測量的新紀元：速度、精度和可探測性，改寫了業界的掃描規則！
日前，?？怂箍涤嬃?/span>發布HP-O技術解決方案 — 基于調頻干涉式光學測距技術，為固定式三坐標測量機所提供的新型光學掃描技術。
HP-O提供了與觸發式掃描測頭相媲美的精度與可靠性，同時提供了更快的掃描速度、擴大的測量范圍，并擁有通用光學非接觸測量的優勢。如果需要高效的掃描測量，而觸發測頭難以接近工件，或者零部件會在觸發探測過程中變形或受損，HP-O將是高精度觸發掃描的替代選擇。
HP-O解決方案支持多傳感器測量：借助測頭更換架，多個光學測頭和觸發測頭可以在一個程序中互換。光學測頭可用于單點檢測和在開放循環模式中的3軸或4軸掃描測量。該解決方案提供了一個完整的測量系統，包含QUINDOS測量軟件 和Leitz PMM-C高精度測量機。
HP-O的新型輕型測頭擁有± 30°的接收角度，重復性小于0.3 μm。HP-O的獨特優勢還包括：
● 非接觸測量：使得零件免受任何機械損傷，可避免測針磨損，同時零件不需要任何噴涂標記。
● 測頭直徑只有3 mm，測量范圍高達20 mm，能夠接觸到觸發測頭難以到達的特征。
● 減少機械探測的局限性，實現高效的數據采集，提供了更快的掃描速度。
● 空間分辨率高，完成最小細節乃至微觀尺寸的測量。
● 以高點密度簡便的獲得特征信息。
“很多人希望通過光學測量解決觸發探測方式的局限性，例如損傷敏感的零件表面，”Ingo Lindner，海克斯康計量的產品線經理說?！叭欢?，光學傳感器往往難以整合到三坐標測量機的標準工作流程中，因此，光學測頭僅僅使用在特殊情況下?，F在，隨著海克斯康計量三坐標測量機專門配備的HP-O解決方案的發布，我們相信找到了領先于其他測量系統的高效高精密光學掃描方案?！?/span>
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