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非接觸式三坐標測量的優(yōu)缺點

發(fā)布時間:2016-08-08

非接觸式三坐標測量,有如下突出的優(yōu)點:

(1) 能夠快速收集到測量曲面的計算機建模信息,用于CADFEM分析等;

(2) 測量點云能夠?qū)崿F(xiàn)與CAD數(shù)據(jù)、工程圖或樣本的對比;

(3) 能夠?qū)α慵M行快速復(fù)制,快速成型或數(shù)控加工;

(4) 能夠應(yīng)用數(shù)字化樣機;

(5) 能夠測量體積小、形狀復(fù)雜和體積很大的被測零件;

(6) 測量點云的噪聲點數(shù)量小,并且可以經(jīng)過調(diào)整而進一步減少噪聲點;

(7) 接觸式測量設(shè)備不能測量的結(jié)構(gòu),如內(nèi)部結(jié)構(gòu),各種柔軟的、易變形的物體和不可接觸的高精密被測件等;

(8) 能夠裝在機器人上實現(xiàn)自動測量;

(9) 重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊、操作簡單;

(10) 帶有先進的計算和渲染測量點云的功能。

 非接觸式三坐標測量的主要缺點:

(1) 因為非接觸式測頭大多是接收被測件表面的反射光或散射光,容易受到被測件表面的反射特性的影響,如顏色、斜率等;

(2) 測頭容易受到環(huán)境光線及雜散光影響;

(3) 非接觸式測量只做被測件輪廓坐標點的大量取樣,不能進行面上指定點的測量,對邊線及凹孔等的處理比較困難;

(4) 使用光學(xué)測頭測量時,測量鏡頭的焦距調(diào)整會影響測量精度

(5) 被測件表面的粗糙度會影響測量結(jié)果;

(6) 光學(xué)陰影處及光學(xué)焦距變化處是測量死角。


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